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X荧光光谱仪主要使用领域X荧光光谱仪原理仪器是较新型X射线荧光光谱仪,具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点能分析F9~U92之间所有元素样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水平,分析时间短薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析,薄膜分析测量样品的最大尺寸要求为直径51mm高40mm.仪器类别0303040903/仪器仪表/成份分析仪器/荧光光度计指标信息
1.发射源是Rh靶X光管,最大电流125mA,电压60kV,最大功率3kW
2.仪器在真空条件下工作,真空度13pascals
3.5块分析晶体,可以分析元素周期表F~U之间所有元素,含量范围是ppm~100%
4.分析软件是Philips公司现为PANalytical最新版软件,既可作半定量,也可定量分析精密度在计算率N=1483870时,RSD=
0.08%稳定性计算率Nmax=6134524Nmin=6115920N平均=6125704相对误差为
0.03%附件信息循环水致冷单元,计算机P10气体瓶空气压缩机分析对象主要有各种磁性材料NdFeB、SmCo合金、FeTbDy、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等,以及各种形态样品的无标半定量分析,对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金,结果接近于定量分析的准确度X荧光分析快速,某些样品当天就可以得到分析结果适合课题研究和生产监控X射线荧光光谱仪分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光波长色散X射线荧光光谱采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开,然后进行测量波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源,可分为顺序式或称单道式或扫描式、同时式或称多道式谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型顺序式通过扫描方法逐个测量元素,因此测量速度通常比同时式慢,适用于科研及多用途的工作同时式则适用于相对固定组成,对测量速度要求高和批量试样分析顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点能量色散X射线荧光光谱非色散谱仪非色散谱仪不是采用将不同能量的谱线分辨开来,而是通过选择激发、选择滤波和选择探测等方法使测量分析线而排除其他能量谱线的干扰,因此一般只适用于测量一些简单和组成基本固定的样品全反射X射线荧光如果n1n2,则介质1相对于介质2为光密介质,介质2相对于介质1为光疏介质对于X射线,一般固体与空气相比都是光疏介质所以,如果介质1是空气,那么α1α2图
2.20右图,即折射线会偏向界面如果α1足够小,并使α2=0,此时的掠射角α1称为临界角α临界当α1α临界时,界面就象镜子一样将入射线全部反射回介质1中,这就是全反射现象能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪,分辨率较低的便携式光谱仪,和介于两者之间的台式光谱仪高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器,如SiLi和高纯锗探测器等低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器,它们不需要液氮冷却近年来,采用电致冷的半导体探测器,高分辨率谱仪已不用液氮冷却同步幅射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式X射线荧光光谱法有如下特点分析的元素范围广,从4Be到92U均可测定;荧光X射线谱线简单,相互干扰少,样品不必分离,分析方法比较简便;分析浓度范围较宽从常量到微量都可分析重元素的检测限可达ppm量级,轻元素稍差;分析样品不被破坏,分析快速,准确,便于自动化应用领域RoHS检测分析地矿与合金(铜、不锈钢等)成分分析金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测。