文本内容:
本软件系统参照了美国ASME和ASTM关于表面测量的标准根据美国ASME和ASTM关于表面测量的标准,结合显微镜所获得的图像数据的实际,可以认为形貌图是由长波长的Waviness和短波长的Roughness构成,而表面特征主要是由Roughness决定Waviness和Roughness可以由滤波或最小二乘方拟合来分离ASME和ASTM定义了许多测量参数可以作为表面特征的表达,再加上信号可以从空间域和频域两个方面来观察的考虑,本软件系统采用了许多空间域和频域上定义的与ASME和ASTM标准相容的参数,以可视化的方式从图形、数据多方面努力刻画好、表达好形貌图的特征内容列表软件系统内容清单视图部分D顶视图一三维视图—游览—多重视图01—020304)软件系统内容清单分析部分2一剖面分析一阶梯分析—深度分析分析一颗粒分析05060708—Bearing09一粗糙度分析一宽度分析—自相关分析—功率谱分析—功率谱比较1011121314比较15—Bearing)软件系统内容清单变换部分3—图像平整()—低通滤波—高通滤波一清除噪声16Flatten171819线图像缩放()—图像缩放()一选择区域截取—图像相20—Zoom21Resize2223减—图像反转—图像旋转—平面拟合()一边242526Plane FitA27缘增强()—边缘检测这主要是为颗粒显微镜分离颗粒准备的一二维功率谱27b28—高斯滤波一中值滤波一卷积2930A31)辅助性工具4—设置颜色—屏幕输出到文件,到打印机打印输出3233。